檢測流程

1、寄樣。(咨詢工程師主要樣品量要求，給我們科研所寄樣)

2、免費初檢。(接收到樣品以后免費初檢小樣)

3、價格表。(初檢以后依據(jù)用戶檢驗要求及其科學(xué)試驗復(fù)雜度做好價格表)

4、簽訂合同保密協(xié)議書。(兩方簽訂合同保密協(xié)議書，支付支付款)

5、開始科學(xué)試驗。

6、7-15個工作日左右完成科學(xué)試驗。

7、中后期業(yè)務(wù)。

我們的檢驗優(yōu)點

1、能為客戶快速制定試驗方案并且快速完成實驗項目

2、龐大的數(shù)據(jù)庫儲備，除了已知物質(zhì)，對于未知物質(zhì)分析有著更豐富的經(jīng)驗

3、檢測周期短，檢測費用低，實驗方案齊全

4、工程師根據(jù)客戶需求提供定制化實驗方案

5、36種語言編寫MSDS報告服務(wù)

6、多家實驗室分支，支持上門取樣/寄樣檢測服務(wù)

第三方產(chǎn)品檢驗報告作用

產(chǎn)品評估：成分分析，分析成分比例，改善生產(chǎn)缺陷，提升產(chǎn)品品質(zhì)性能

政府監(jiān)管：工商檢測，市場監(jiān)督，項目投標(biāo)招標(biāo)，申請退稅基金等

上市品控：保證自己的產(chǎn)品能順利進入各種電商品臺，商超等

打通市場：增強企業(yè)的認(rèn)知可信度，擴大市場占有率，提高企業(yè)競爭力，彰顯產(chǎn)品品質(zhì)

工業(yè)診斷：為您解決工藝、材料中的未知物定性定量分析服務(wù)

檢測標(biāo)準(zhǔn)參考

GB/T 1550-2018非本征半導(dǎo)體材料導(dǎo)電類型測試方法

GB/T 8758-2006砷化鎵外延層厚度紅外干涉測量方法

GB/T 12964-2018硅單晶拋光片

GB/T 14015-1992硅-蘭寶石外延片

GB/T 14139-2019硅外延片

GB/T 14844-2018半導(dǎo)體材料牌號表示方法

GB/T 19921-2018硅拋光片表面顆粒測試方法

GB/T 24575-2009硅和外延片表面Na、Al、K和Fe的二次離子質(zhì)譜檢測方法

GB/T 24578-2015硅片表面金屬沾污的全反射X光熒光光譜測試方法

GB/T 26066-2010硅晶片上淺腐蝕坑檢測的測試方法

GB/T 30453-2013硅材料原生缺陷圖譜

GB/T 30653-2014Ⅲ族氮化物外延片結(jié)晶質(zhì)量測試方法

GB/T 30654-2014Ⅲ族氮化物外延片晶格常數(shù)測試方法

GB/T 30655-2014氮化物L(fēng)ED外延片內(nèi)量子效率測試方法

GB/T 30854-2014LED發(fā)光用氮化鎵基外延片

GB/T 30857-2014藍(lán)寶石襯底片厚度及厚度變化測試方法

GB/T 32279-2015硅片訂貨單格式輸入規(guī)范

GB/T 35308-2017太陽能電池用鍺基Ⅲ-Ⅴ族化合物外延片

GB/T 35310-2017200mm硅外延片

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