半導(dǎo)體集成電路CMOS電路檢測(cè)半導(dǎo)體電子元器件檢測(cè)電鍍?cè)嚻瑱z測(cè)

• 

  半導(dǎo)體集成電路CMOS電路檢測(cè)

  檢測(cè)項(xiàng)目 輸入正向閩值電壓VIT+，輸入負(fù)向闌值電壓VIT-，帶后電壓△VT，檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn) 半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測(cè)試方法的基本原理SJ/T10741-200，具有CMA，CNAS認(rèn)證資質(zhì)。

  2023-04-15 檢測(cè)認(rèn)證服務(wù)
• 

  半導(dǎo)體電子元器件檢測(cè)

  檢測(cè)項(xiàng)目 預(yù)處理，高溫反偏，間歇老化，高溫高濕反偏，高加速壽命實(shí)驗(yàn)，高溫高濕，檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn) 非密封性表面貼裝元器件可靠性試驗(yàn)前的預(yù)處理JESD22-A1131-2，具有CMA，CNAS認(rèn)證資質(zhì)。

  2023-04-15 檢測(cè)認(rèn)證服務(wù)
• 

  電鍍?cè)嚻瑱z測(cè)

  檢測(cè)項(xiàng)目 鹽霧試驗(yàn)，晶間腐蝕試驗(yàn)，鍍層測(cè)厚試驗(yàn)，鍍層附著力試驗(yàn)，重量變化試驗(yàn)，檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn) 鹽霧試驗(yàn)設(shè)備的使用標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范ASTMB117-19 晶間腐蝕測(cè)試方法BS，具有CMA，CNAS認(rèn)證資質(zhì)。

  2023-04-15 檢測(cè)認(rèn)證服務(wù)
• 

  光纖檢測(cè)

  檢測(cè)項(xiàng)目 包層直徑，包層不圓度，芯/包層同心度誤，截止波長(zhǎng)，模場(chǎng)直徑，檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn) 光纖試驗(yàn)方法規(guī)范第20部分：尺寸參教的則量方法和試驗(yàn)程序-光纖幾何參數(shù)，具有CMA，CNAS認(rèn)證資質(zhì)。

  2023-04-15 檢測(cè)認(rèn)證服務(wù)
• 

  家用燃?xì)庠罹邫z測(cè)

  檢測(cè)項(xiàng)目 氣密性試驗(yàn)，熱負(fù)荷試驗(yàn)，燃燒工況試驗(yàn)，溫升試驗(yàn)，耐熱沖擊試驗(yàn)，檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn) 家用燃?xì)庠罹逩B16410-2020 家用燃?xì)庠罹逩B16410-20，具有CMA，CNAS認(rèn)證資質(zhì)。

  2023-04-15 檢測(cè)認(rèn)證服務(wù)
• 

  集中器、采集器檢測(cè)

  檢測(cè)項(xiàng)目 溫升試驗(yàn)，絕緣電阻，絕緣強(qiáng)度，沖擊電壓，功能試驗(yàn)，數(shù)據(jù)傳輸信道，檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn) 用電信息采集系統(tǒng)檢驗(yàn)規(guī)范第3部分：集中抄表終端Q/GDW10379.3，具有CMA，CNAS認(rèn)證資質(zhì)。

  2023-04-15 檢測(cè)認(rèn)證服務(wù)