氣候環(huán)境試驗：低溫試驗、高溫試驗、濕熱試驗、恒定濕熱試驗、交變濕熱試驗、溫度/低氣壓綜合試驗、穩(wěn)態(tài)加速度試驗、長霉試驗、鹽霧試驗、二氧化硫試驗、低氣壓試驗、溫度變化試驗、高濃度二氧化硫試驗、沙塵試驗、流體污染試驗、大型試件砂塵試驗、濕熱試驗等；
力學環(huán)境試驗：振動試驗、錫焊試驗、潤濕稱量法可焊性試驗、結(jié)構強度與撞擊試驗、傾斜和搖擺試驗等；
物理環(huán)境試驗：耐磨性能、引出端及整體安裝件強度試驗等

環(huán)境試驗方法標準是電工電子產(chǎn)品的基礎標準，它對保證產(chǎn)品質(zhì)量，改進生產(chǎn)工藝，特別是對提高電工電子產(chǎn)品的可靠性，增強產(chǎn)品環(huán)境適應性有著重要作用。如低溫試驗可確定電子元器件、設備在低溫條件下能否正常啟動和工作；高溫試驗用來考核或確定電子元器件及設備在高溫環(huán)境下儲存、運輸或使用過程中的適應性等。
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種電工電子產(chǎn)品的環(huán)境試驗能力，為電工電子產(chǎn)品提供專業(yè)的低溫試驗、高溫試驗、濕熱試驗、振動試驗、沙塵試驗、流體污染試驗等服務。

健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種電工電子產(chǎn)品的環(huán)境試驗能力，為電工電子產(chǎn)品提供專業(yè)的低溫試驗、高溫試驗、濕熱試驗、振動試驗、沙塵試驗、流體污染試驗等服務。

GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫
GB/T 2424.2-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 濕熱試驗導則
GB/T 2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 實驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗
GB/T 2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗Db：交變濕熱（12h+12h循環(huán)）
GB/T 2424.15-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度/低氣壓綜合試驗導則
GB/T 2423.15-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ga和導則：穩(wěn)態(tài)加速度
GB/T 2423.16-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗J及導則：長霉
GB/T 2424.17-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗T：錫焊試驗導則
GB/T 2423.17-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ka：鹽霧
GB/T 2423.19-2013 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Kc：接觸點和連接件的二氧化硫試驗
GB/T 2423.21-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試程 第2部分：試驗方法 試驗M：低氣壓
GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化
GB/T 2424.25-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第3部分：試驗導則 地震試驗方法
GB/T 2424.26-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第3部分：支持文件和導則 振動試驗選擇
GB/T 2423.27-2020 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗方法和導則：溫度/低氣壓或溫度/濕度/低氣壓綜合試驗
GB/T 2423.28-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗T：錫焊

電子產(chǎn)品：以電能為工作基礎的相關產(chǎn)品，主要包括：手表、智能手機、電話、電視機、影碟機（VCD、SVCD、DVD）、錄像機、攝錄機、收音機、收錄機、組合音箱、激光唱機（CD）、電腦、游戲機、移動通信產(chǎn)品等。
電工產(chǎn)品：是指向終端用戶提供電源電器控制的設備，包括開關插座、斷路器、綜合布線、安防系統(tǒng)等，又稱建筑電氣附件。