1、試驗條件
試驗過程應(yīng)遵循規(guī)定的試驗溫度和試樣放置時間。試驗過程中對濕度不進(jìn)行控制，但建議在試驗開始時，35℃下的濕度應(yīng)不高于50%RH。
2、測量
傳輸特性測量、機械性能測量
3、預(yù)處理
如有要求，試樣應(yīng)按照詳細(xì)規(guī)范進(jìn)行預(yù)處理。
4、條件調(diào)節(jié)
在進(jìn)行基準(zhǔn)測量前應(yīng)使試驗箱和試樣穩(wěn)定在規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下。按照規(guī)定的嚴(yán)酷度調(diào)整試驗箱的溫度和濕度。在最長5 min時間內(nèi)，平均升溫速度應(yīng)不超過1℃/min。使樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定，并在規(guī)定期間內(nèi)維持該溫度和濕度不變。
5、恢復(fù)
如果沒有特殊要求，試樣應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下恢復(fù)12 h 以上，但不得超過48 h。
詳細(xì)規(guī)范可要求在恢復(fù)階段進(jìn)行測量，如有此要求，詳細(xì)規(guī)范應(yīng)規(guī)定什么時候，進(jìn)行哪些方面的測量。

在長期高溫環(huán)境下，光纜和光纖傳感器內(nèi)光纖的衰減增加的情況。光纖的散射損耗的增加，則主要來源于光纖內(nèi)部的雜質(zhì)以及在高溫環(huán)境下的氫損，這個有可能增加的很多，是光纜和光纖傳感器無法在高溫下持續(xù)工作的主要原因。
光纖產(chǎn)品干熱試驗?zāi)康氖谴_定A1類多模光纖和B類單模光纖在實際應(yīng)用.貯存和（或）運輸過程中可能發(fā)生的高溫（干熱）環(huán)境條件下的適應(yīng)性能。
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種光纖的環(huán)境試驗?zāi)芰Γ瑸楣饫w產(chǎn)品提供專業(yè)的干熱試驗服務(wù)。

健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種光纖的環(huán)境試驗?zāi)芰Γ瑸楣饫w產(chǎn)品提供專業(yè)的干熱試驗服務(wù)。

GB/T 15972.51 -2008光纖試驗方法規(guī)范第51部分：環(huán)境性能的測量方法和試驗程序 干熱
IEC60793-1-51：2001 光纖 第1-51部分：測量方法和試驗程序-干熱
GB/T 15972.10-2008光纖試驗方法規(guī)范 第10部分：測量方法和試驗程序 總則
GB/T 15972.40-2008光纖試驗方法規(guī)范 第40部分：傳輸特性和光學(xué)特性的測量方法和試驗程序 衰減
GB/T 2423.2-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 ：試驗方法 試驗B：高溫
GB/T 15972.32-2021 光纖試驗方法規(guī)范 第32部分：機械性能的測量方法和試驗程序 涂覆層可剝性

A1類多模光纖、B類單模光纖等光纖產(chǎn)品。