通信用光電子器件低溫貯存試驗
健明迪檢測提供的通信用光電子器件低溫貯存試驗，通信用光電子器件低溫貯存試驗 試驗范圍 1、有源器件：有源器件包括光源、光檢測器和光放大器，這些器件是光發(fā)射機、光接收機和光中繼器的關(guān)鍵器件，具有CMA，CNAS資質(zhì)。
通信用光電子器件低溫貯存試驗 試驗范圍
1、有源器件：有源器件包括光源、光檢測器和光放大器，這些器件是光發(fā)射機、光接收機和光中繼器的關(guān)鍵器件，和光纖一起決定著基本光纖傳輸系統(tǒng)的水平。
2、光無源器件：光無源器件主要有連接器、光纖準(zhǔn)直器、耦合器、波分復(fù)用器/解復(fù)用器、光隔離器、光環(huán)形器、光開關(guān)、光濾波器、光衰減器等。
2、光無源器件：光無源器件主要有連接器、光纖準(zhǔn)直器、耦合器、波分復(fù)用器/解復(fù)用器、光隔離器、光環(huán)形器、光開關(guān)、光濾波器、光衰減器等。
通信用光電子器件低溫貯存試驗 試驗標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 33768-2017 通信用光電子器件可靠性試驗方法
GB/T 21194通信設(shè)備用的光電子器件的可靠性通用要求
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫
GB/T 2951.14-2008 電纜和光纜絕緣和護套材料通用試驗方法 第14部分：通用試驗方法 低溫試驗
GB/T 21194通信設(shè)備用的光電子器件的可靠性通用要求
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫
GB/T 2951.14-2008 電纜和光纜絕緣和護套材料通用試驗方法 第14部分：通用試驗方法 低溫試驗
通信用光電子器件低溫貯存試驗 試驗背景
進行低溫試驗的目的是為了確定產(chǎn)品在低溫條件下貯存或使用的適應(yīng)性。所謂低溫條件下的適應(yīng)性是指產(chǎn)品在恒定的低溫條件下貯存或使用時，能保持完好，不受損壞并能正常工作的能力。通信用光電子器件低溫貯存試驗可確定光電子器件能否經(jīng)受低溫下運輸和貯存，以保證光電子器件經(jīng)受低溫后能在規(guī)定條件下正常工作。
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種通信用光電子器件的環(huán)境試驗?zāi)芰?，為通信用光電子器件提供專業(yè)的低溫貯存試驗服務(wù)。
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種通信用光電子器件的環(huán)境試驗?zāi)芰?，為通信用光電子器件提供專業(yè)的低溫貯存試驗服務(wù)。
通信用光電子器件低溫貯存試驗 試驗方法
按以下程序進行試驗：
a）試驗前測試試樣的主要光電特性；
b）把試樣貯存在規(guī)定試驗條件的低溫試驗箱中，在開始計時之前應(yīng)有足夠降溫時間，使所有試樣處在規(guī)定的溫度下，溫度傳感器應(yīng)位于工作區(qū)內(nèi)最高溫度的位置處；
c）在達(dá)到規(guī)定的試驗時間后，把試樣從試驗環(huán)境中移出，放置24 h，使之達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)測試條件，并對試樣光電特性進行測試。
a）試驗前測試試樣的主要光電特性；
b）把試樣貯存在規(guī)定試驗條件的低溫試驗箱中，在開始計時之前應(yīng)有足夠降溫時間，使所有試樣處在規(guī)定的溫度下，溫度傳感器應(yīng)位于工作區(qū)內(nèi)最高溫度的位置處；
c）在達(dá)到規(guī)定的試驗時間后，把試樣從試驗環(huán)境中移出，放置24 h，使之達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)測試條件，并對試樣光電特性進行測試。
