
根據(jù)異物的實(shí)際情況選擇不同的測試方法:
1.FTIR如果異物是有機(jī)物,通常選用顯微紅外光譜儀進(jìn)行分析,獲得異物的官能團(tuán)信息,與標(biāo)準(zhǔn)譜庫進(jìn)行檢索,確定異物的主要成分;
2.SEM+EDS如果異物是金屬或者氧化物,并且沒有明確的官能團(tuán)信息,通常選用電子顯微鏡-X射線能譜分析儀(SEM+EDS)對(duì)異物或材料表面進(jìn)行元素成分分析。
3.XPS如果異物是金屬或者氧化物,并且沒有明確的官能團(tuán)信息,同時(shí)是在材料極表面(納米級(jí)別)時(shí),通常選用X射線光電子能譜儀(XPS)進(jìn)行元素成分分析。
表面異物分析是指對(duì)產(chǎn)品表面的微小異物或表面污染物、析出物進(jìn)行成分分析的技術(shù),例如對(duì)表面嵌入異物、斑點(diǎn)、油狀物、噴霜等異常物質(zhì)進(jìn)行定性分析,借此找尋污染源或配方不相容者,是改善產(chǎn)品最常用的分析方法之一。健明迪檢測開展金屬表面異物成分分析服務(wù),具備CMA、CNAS資質(zhì)認(rèn)證。
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