
包裝、紙箱、箱包、電子產(chǎn)品、電器設(shè)備等。
自由跌落試驗(yàn)?zāi)M產(chǎn)品在使用、運(yùn)輸過程中產(chǎn)品遭受跌落環(huán)境應(yīng)力的影響,考察產(chǎn)品抗意外沖擊的能力,以確定產(chǎn)品在搬運(yùn)期間由于粗率裝卸遭到跌落的適應(yīng)性,或確定安全要求用的牢固等級(jí)。健明迪檢測(cè)開展自由跌落試驗(yàn)服務(wù),具備CMA、CNAS資質(zhì)認(rèn)證。
GB/T 12085.13-2010 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第13部分:沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗(yàn)
GB/T 2423.8-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分;試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ed:自由跌落
GB/T 12085.13-1989 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫
JB/T 13702.5-2019 照相機(jī)環(huán)境試驗(yàn) 第5部分:自由跌落試驗(yàn)
JIS C5402-7-1-2016 電子設(shè)備連接器. 試驗(yàn)和測(cè)量. 第7-1部分: 沖擊試驗(yàn) (自由連接器). 試驗(yàn)7a: 自由跌落 (重復(fù)性)
TIS 2380.2-32-2013 基本環(huán)境試驗(yàn).第2部分:試驗(yàn).試驗(yàn)Ed:自由跌落
SN/T 2498.2-2010 進(jìn)出口煙花爆竹制品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)范.試驗(yàn)Ed:自由跌落
DIN EN 2591-421-2003 航空航天系列.光電連接元件.試驗(yàn)方法.第421部分:自由跌落
KS C 0244-2001 環(huán)境試驗(yàn)方法.電工·電子產(chǎn)品.自由跌落試驗(yàn)方法
JB/T 8250.4-1999 照相機(jī) 自由跌落試驗(yàn)方法




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