1、有源器件：有源器件包括光源、光檢測(cè)器和光放大器，這些器件是光發(fā)射機(jī)、光接收機(jī)和光中繼器的關(guān)鍵器件，和光纖一起決定著基本光纖傳輸系統(tǒng)的水平。
2、光無(wú)源器件：光無(wú)源器件主要有連接器、光纖準(zhǔn)直器、耦合器、波分復(fù)用器/解復(fù)用器、光隔離器、光環(huán)形器、光開(kāi)關(guān)、光濾波器、光衰減器等。

GB/T 33768-2017 通信用光電子器件可靠性試驗(yàn)方法
GB/T 21194通信設(shè)備用的光電子器件的可靠性通用要求
GB/T 4937.12-2012 半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法  第12部分：掃頻振動(dòng)
GB/T 4857.10-2005 包裝 運(yùn)輸包裝件基本試驗(yàn) 第10部分：正弦變頻振動(dòng)試驗(yàn)方法
GB/T 4857.23-2021 包裝 運(yùn)輸包裝件基本試驗(yàn) 第23部分：垂直隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)方法
GB/T 4857.7-2005 包裝 運(yùn)輸包裝件基本試驗(yàn) 第7部分：正弦定頻振動(dòng)試驗(yàn)方法
GB/T 2423.102-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)（正弦）綜合
GB/T 2423.58-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fi：振動(dòng) 混合模式
GB/T 2423.59-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/ABMFh：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)（隨機(jī)）綜合
GB/T 2423.63-2019 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)（混合模式）綜合 GB/T 2424.26-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第3部分：支持文件和導(dǎo)則 振動(dòng)試驗(yàn)選擇

振動(dòng)試驗(yàn)可模擬一連串振動(dòng)現(xiàn)象，測(cè)試產(chǎn)品在壽命周期中，是否能承受運(yùn)輸或使用過(guò)程的振動(dòng)環(huán)境的考驗(yàn)，也能確定產(chǎn)品設(shè)計(jì)和功能的要求標(biāo)準(zhǔn)。通信用光電子器件變頻振動(dòng)試驗(yàn)可確定在規(guī)定頻率范圍內(nèi)振動(dòng)對(duì)光電子器件的影響。
健明迪檢測(cè)可靠性實(shí)驗(yàn)中心具備各種通信用光電子器件的環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰Γ瑸橥ㄐ庞霉怆娮悠骷峁?zhuān)業(yè)的變頻振動(dòng)試驗(yàn)服務(wù)。

按以下程序進(jìn)行試驗(yàn)：
a）試驗(yàn)前應(yīng)對(duì)試樣的主要光電特性進(jìn)行測(cè)試；
b）將試樣外殼剛性地固定在振動(dòng)臺(tái)上，引線(xiàn)或光纖也應(yīng)適當(dāng)固定；
c）試樣在振動(dòng)臺(tái)上作等幅簡(jiǎn)諧振動(dòng)，其振幅兩倍幅值為（1.52±0.1）mm。在向下變頻率時(shí)，控制振幅大小，向上變頻率時(shí)，控制峰值加速度值。
振動(dòng)頻率在20 Hz～2 000 Hz范圍內(nèi)近似對(duì)數(shù)變化。從20 Hz~2 000 Hz，然后從2 000 Hz回到20 Hz的時(shí)間應(yīng)不少于4 min ；
d）在X1，Y1，Z1的三個(gè)方向上各進(jìn)行4次循環(huán)，總共12次。整個(gè)周期所需時(shí)間至少為48 min。